-創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的精確性
-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀標準配置：
帶塑料手提箱，內(nèi)含：
--F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
--MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
--或MINITEST 730（外置探頭）
--或MINITEST740主機（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀技術(shù)數(shù)據(jù)表
SIDSP探頭 探頭
特性 | F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 | F2 | F5，N2.5，F(xiàn)N5 | F15 | F | N | F | F | N | F | 測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm | 使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標準探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | 測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 信號處理 | 探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP） | 精確度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） | 重復性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | zui小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | zui小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | zui小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm | 連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個讀數(shù) | 單值模式下zui大測量速度 | 每分鐘70個讀數(shù) |
主機型號
特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 | 探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 | 數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 | 存儲數(shù)據(jù)量 | zui多10,000個 | zui多10,000個 | zui多100,000個 | 統(tǒng)計值 | 讀值個數(shù)，zui小值，zui大值，平均值，標準方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計值（標準設(shè)置/自由配置） | 校準程序符合標準和規(guī)范 | ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準 | 校準模式 | 出廠設(shè)置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調(diào)節(jié)補償值 | 極限值監(jiān)控 | 聲、光報警提示超過極限 | 測量單位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | 操作溫度 | -10℃-60℃ | 存放溫度 | -20℃-70℃ | 數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0（紅外接口） | 電源 | 2節(jié)AA電池 | 標準 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 | 體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | 重量 | 約175g | 約210g | 約175g（內(nèi)置）/230g（外置） |
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